Einrichtungen für zerstörungsfreie und zerstörende Schichtdickenbestimmungen stehen zur Verfügung:
Nach geeigneter Präparation der Probe wird diese unter dem Licht- oder Rasterelektronenmikroskop betrachtet. Für die Auswertung wird in beiden Fällen eine PC gestützte Bildanalyse verwendet.
Dr. Kerstin KernWiss. MA IMP
+41 58 257 34 08kerstin.kern(at)ost.ch