Data-Driven Analysis and Unsupervised Anomaly Detection on Mechatronic Wafer Lifters
Studiengang
MSE Technik und IT
Art der Arbeit
Masterarbeit
Verfasser/in
Rasim Emini
Referent/in
Prof. Dr. Carlo Bach
Experte
Prof. Dr. Klaus Frick
/ Berufsmaturitätsschule Liechtenstein,
Partner
VAT Group AG, Haag,
SG
Jahr
2026