Statistical Analysis of Test Data in Microelectronics Industry

Studiengang
Informatik
Art der Arbeit
Bachelorarbeit
Verfasser/in
Alexander van Schie
Nicolas Manuel Ganz
Referent/in
Prof. Dr. Lin Himmelmann
Experte
Jürg Dietrich / AXA, Winterthur
Jahr
2020
Arbeit als PDF
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