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Untersuchung von Beschichtungen und (Grenz-) Schichten

Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung

  • an Kunststoff- und Eloxalschichten auf unmagnetischem Grundwerkstoff
  • an Metallisierungen, z.B. Kupferschichten auf Leiterplatten
  • an galvanischen Schichten und Lackschichten auf Eisenwerkstoffen 

Messmethoden

  • magnetinduktiv (DIN EN ISO 2178)
  • magnetisch (DIN EN ISO 2178) mit Wirbelstrom (DIN EN ISO 2360)
  • elektrischer Widerstand (4 Spitzen)
  • Röntgenabsorption (RFA)  

Zerstörende Schichtdickenmessung

  • bei Einsatz- und Nitrierschichten
  • bei galvanisch aufgewachsenen (Mehrfach-) Schichten
  • bei Metallisierungen

Messmethoden

  • Lichtmikroskopie
  • Rasterelektronenmikroskopie

Ermittlung von Schicht-Zusammensetzung und -Phasenbestand

die chemische Zusammensetzung lässt sich bei den meisten Schichten bestimmen, die Bestimmung des Phasenbestands erfordert Kristallinität 

Messmethoden

  • Lichtmikroskopie / Rasterelektronenmikroskopie
  • Röntgenspektrometrie (RFA bzw. EDX im REM)

Bestimmung von Härte

  • bei Einsatz- und Nitrierschichten bei Metallisierungen 

Messmethoden

  • Vickers-Härteprüfung

Abbildung von Defekten in einer Beschichtung und an Grenzfläche

  • bei Einsatz-, Nitrier- und Eloxal-Schichten (Spannungs- und Härterisse, Einschlüsse etc.)
  • bei galvanischen Beschichtungen und Metallisierungen (Delaminationen)
  • bei Schutzschichten (Korrosions- und Reaktionsprodukte, Ablösungen, Risse)
  • bei Schweissungen (Bindefehler, Lunker, Risse)

Abbildungsmethoden

  • Abbildungsmethoden
  • Lichtmikroskopie (HF, DF, POL, DIC)
  • Rasterelektronenmikroskopie (HV, VP)

Dr.-Ing. Kerstin Kern

IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik Projektleiterin und Fachverantwortliche Werkstoffprüfung

+41 58 257 34 08 kerstin.kern@ost.ch

Jan Allaart

IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik Experte für Schadensanalyse

+41 58 257 33 75 jan.allaart@ost.ch

IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik

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