Schichtdickenbestimmung

Einrichtungen für zerstörungsfreie und zerstörende Schichtdickenbestimmungen stehen zur Verfügung:

Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung

von Cu-Schichten auf Leiterplatten
von Kunststoffen und Eloxalschichten auf unmagnetischem Grundwerkstoff
von galvanischen Schichten und Lackschichten auf Eisenwerkstoffen

Messmethoden

magnetinduktiv (DIN EN ISO 2178)
magnetisch (DIN EN ISO 2178) mit Wirbelstrom (DIN EN ISO 2360)
elektrischer Widerstand (4 Spitzen)
Röntgenfluoreszenz (in Einzelfällen)

Zerstörende Schichtdickenmessung

Nach geeigneter Präparation der Probe wird diese unter dem Licht- oder Rasterelektronenmikroskop betrachtet. Für die Auswertung wird in beiden Fällen eine PC gestützte Bildanalyse verwendet.

Dr.-Ing. Kerstin Kern

IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik Projektleiterin und Fachverantwortliche Werkstoffprüfung

+41 58 257 34 08 kerstin.kern@ost.ch